基于金属薄膜热效应的等离子体辐射能量测量薄膜量热计

摘要

本发明涉及一种基于金属薄膜热效应的等离子体辐射能量测量薄膜量热计，包括基底、多个薄膜、多个导电件、多个导线及至少两个磁性件，各薄膜设置于基底的其中一面，每一薄膜上分别设置有两个导电件，每一导线的一端与一导电件连接，各导线的远离导电件的一端用于分别与电数据采集组件连接，两个磁性件分别设置于基底朝向薄膜的一面，两个磁性件围绕各薄膜设置，且两个磁性件对应设置，通过多个薄膜承载等离子体的辐射，当薄膜受到辐射后，会在薄膜表面产生电信号，通过导电件和导线测量能够使得电信号被电数据采集组件采集，从而可以通过薄膜上的电信号计算得到各薄膜所在的平面上的辐射量，从而精确地得到二维平面上的辐射量。