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一种纳米级库仑岛结构的制备方法

摘要

本发明公开了一种纳米级库仑岛结构的制备方法,包括:A、在衬底的导电层上涂敷电子抗蚀剂;B、对涂敷的电子抗蚀剂进行前烘;C、对电子抗蚀剂进行电子束直写曝光;D、对曝光后的抗蚀剂进行显影;E、对显影后的电子抗蚀剂进行定影;F、将定影后的电子抗蚀剂作为掩模刻蚀导电层,在导电层上得到纳米级的库仑岛结构;G、对得到的库仑岛结构进行去胶和高温干氧氧化处理,得到更小尺寸的纳米级库仑岛结构。利用本发明,简化了制备工艺,降低了制备成本,提高了制备效率,并提高了制备库仑岛结构的可靠性。本发明提供的制备方法具有与传统CMOS工艺兼容的优点,有利于本发明的广泛推广和应用。

著录项

  • 公开/公告号CN100466204C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-03-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院微电子研究所;

    申请/专利号CN200610012129.X

  • 申请日2006-06-07

  • 分类号H01L21/335(20060101);G03F7/00(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人周国城

  • 地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号

  • 入库时间 2022-08-23 09:01:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-08-04

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/335 授权公告日:20090304 申请日:20060607

    专利权的终止

  • 2009-03-04

    授权

    授权

  • 2008-02-06

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-12-12

    公开

    公开

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