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公开/公告号CN109444473B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-06-15
原文格式PDF
申请/专利权人 中国电子科技集团公司第十三研究所;
申请/专利号CN201811582064.1
发明设计人 韩志国;李锁印;冯亚南;梁法国;赵琳;许晓青;吴爱华;
申请日2018-12-24
分类号G01Q30/20(20100101);
代理机构13120 石家庄国为知识产权事务所;
代理人高欣
地址 050051 河北省石家庄市新华区合作路113号
入库时间 2022-08-23 11:58:12
机译: 使用线宽标准的线宽测量工具校准方法
机译: 非标准无线宽带通信的系统和方法
机译: 线宽校准标准的制造和认证方法
机译:FERMION大规模层次结构的自下而上的方法:一种载体样片的案例
机译:通过准标准方法研究热传导率测量方法(通过准标准方法的热导率可测的数值分析检查)
机译:一维磁体中EPR线宽的温度依赖性:一种准经典方法
机译:关于半导体线宽度标准(第6次报告)的研究 - 考虑硅网格影响的线宽测量中边缘测定方法的检查
机译:墨水,基材和目标线宽对使用DMP 3000喷墨打印机打印的线条质量的影响
机译:RM 8111:开发原型线宽标准
机译:在标准模型扩展上,载体样片和阿比海对称性
机译:标准参考材料:抗反射 - 铬线宽标准sRm473,用于校准光学显微镜线宽测量系统