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韩志国; 李锁印; 冯亚南; 赵琳; 吴爱华;
中国电子科技集团公司第十三研究所 石家庄 050051;
线宽标准样片; 电子束; 线宽偏差; 线边缘粗糙度; 均匀性; 稳定性;
机译:使用改进的光学无掩模光刻系统制备纳米级线宽
机译:用于高分辨率光学显微镜和其他显微镜技术的纳米级线宽/间距标准
机译:抗癌药物制备环境中的污染调查用样片法监测5-FU的有效性
机译:高分辨率光学显微镜的纳米级线宽标准的研制
机译:纳米级金属和半导体颗粒以及纳米级复合材料的制备与表征
机译:新型低聚物混合配体配合物的设计:制备生物学应用和其纳米级规模的第一个例子。
机译:在标准模型扩展上,载体样片和阿比海对称性
机译:标准参考材料:抗反射 - 铬线宽标准sRm473,用于校准光学显微镜线宽测量系统
机译:扫描显微镜的校准方法是使用被测标准样品,以及纳米级标准样品的纳米级测量
机译:用于制备彩色样片的卤化银彩色照相感光材料及彩色样片的制备方法
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