首页> 中国专利> 修改微光刻光学系统的成像性质的方法和装置

修改微光刻光学系统的成像性质的方法和装置

摘要

本发明涉及修改微光刻的光学系统的成像性质的方法和装置。根据本发明的方法包含通过由至少一个接口耦合到光学系统中的控制信号(A,B,C)修改成像性质,其中在控制成像性质的期望的修改中被耦入的这些控制信号的相应值基于模型来确定,其中生成该模型在于:在学习阶段中发生将模型连续单独适配到光学系统,在该学习阶段中确定了对于控制信号的不同值所获得的成像性质的相应修改;并且其中在没有规定光学系统内关于内部动作机制的显性信息的情况下,实行学习阶段。

著录项

  • 公开/公告号CN110192154B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 卡尔蔡司SMT有限责任公司;

    申请/专利号CN201780084098.5

  • 发明设计人 J.克诺夫;M.阿瓦德;

    申请日2017-12-01

  • 分类号G03F7/20(20060101);G06N20/00(20190101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人王蕊瑞

  • 地址 德国上科亨

  • 入库时间 2022-08-23 11:57:58

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号