公开/公告号CN110192154B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-06-15
原文格式PDF
申请/专利权人 卡尔蔡司SMT有限责任公司;
申请/专利号CN201780084098.5
申请日2017-12-01
分类号G03F7/20(20060101);G06N20/00(20190101);
代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;
代理人王蕊瑞
地址 德国上科亨
入库时间 2022-08-23 11:57:58
机译: 用于修改微光刻光学系统的成像性能的方法和装置
机译: 修改用于微光刻的光学系统的成像特性的方法和设备
机译: 使用成像光学系统的曝光方法,具有成像光学系统的曝光设备,使用该曝光设备的微器件制造方法以及成像光学系统