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一种平板探测器、X射线成像系统及自动曝光检测方法

摘要

本发明提供一种平板探测器、X射线成像系统及自动曝光检测方法,包括:第一闪烁体层、图像传感器、自动曝光检测传感器及PCB电路板;与X射线源、显示设备组成X射线成像系统。自动曝光检测传感器清空各像素单元中的电荷;采集各像素单元中的电荷,并计算其累积分布函数,以累积分布函数的设定概率所对应的电压值作为参考值;若所述参考值未超出阈值电压则判定为无X射线,返回清空;若所述参考值超出阈值电压则判定为有X射线,执行下一次清空、采集和比较,至少连续2次判定有X射线则发出曝光请求信号以实现自动曝光检测。本发明实现自动曝光检测的全视野检测,减少误触发,灵敏度高,有效提高图像采集质量。

著录项

  • 公开/公告号CN107773259B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海奕瑞光电子科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201610794885.6

  • 发明设计人 欧阳纯方;金利波;邱承彬;

    申请日2016-08-31

  • 分类号A61B6/00(20060101);

  • 代理机构31219 上海光华专利事务所(普通合伙);

  • 代理人余明伟

  • 地址 201201 上海市浦东新区张江高科技产业东区瑞庆路590号9幢2层202室

  • 入库时间 2022-08-23 11:57:15

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