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一种基于支持向量回归的闪存寿命预测方法

摘要

本发明公开了一种基于支持向量回归的闪存寿命预测方法,包括下述步骤:(1)获取待测闪存的特征量,特征量包括:闪存的编程时间、读取时间、擦除时间、电流、功耗、阈值电压分布、存储块编号、存储页号、闪存当前经历过的编程/擦除周期数、条件错误页数、条件错误块数、错误比特数和错误率;(2)对特征量进行处理后获得运算结果;(3)将特征量与运算结果组成集合,并将集合中的子集作为支持向量回归模型的输入进行支持向量回归运算后获得与特征量对应的闪存的寿命预测值。本发明可以预测闪存的剩余使用寿命,让闪存存储设备使用者在使用设备期间了解存储器的损耗状态,避免因存储器单元失效而造成的数据流失。

著录项

  • 公开/公告号CN109637576B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN201811547901.7

  • 发明设计人 刘政林;陈卓;鲁赵骏;张海春;

    申请日2018-12-17

  • 分类号G11C16/34(20060101);G06F17/18(20060101);

  • 代理机构42201 华中科技大学专利中心;

  • 代理人廖盈春;曹葆青

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2022-08-23 11:56:55

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