首页> 中国专利> 用于校准差分电路中跨导或增益随工艺或条件变化的方法和设备

用于校准差分电路中跨导或增益随工艺或条件变化的方法和设备

摘要

提供了一种设备。设备包括被配置用于产生参考信号的校准电路,以及每个配置用于基于参考信号在随工艺或条件变化的经校准跨导下操作的至少一个差分电路。可以配置校准电路以独立于至少一个差分电路而产生参考信号。提供了一种用于操作至少一个差分电路的方法。方法包括产生参考信号并且基于参考信号在随工艺或条件变化的经校准跨导或增益下操作至少一个差分电路。可以独立于至少一个差分电路而产生参考信号。

著录项

  • 公开/公告号CN107210716B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 高通股份有限公司;

    申请/专利号CN201580072655.2

  • 发明设计人 李淼;孙立;朱志;

    申请日2015-12-11

  • 分类号H03F3/45(20060101);H03K19/003(20060101);H03K19/0185(20060101);

  • 代理机构11256 北京市金杜律师事务所;

  • 代理人王茂华;张宁

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 11:52:16

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号