一种低误差准确测量单个纳米材料杨氏模量的方法

摘要

本发明公开了一种低误差准确测量单个纳米材料杨氏模量的方法，通过透射电子显微镜测量待测单个线形纳米材料样品的特征尺寸；将待测单个线形纳米材料样品固定在样品夹持装置中两个相对设置的放电电极中的一个电极上；对样品夹持装置上的两个放电电极施加交变电信号使样品产生振动，改变交变电信号的频率，同时利用透射电子显微镜对待测单个线形纳米材料样品的振动状态进行监测，通过寻找其出现最大振幅时所作用交变电信号的频率，即共振频率，以确定该样品的本征固有频率；最后利用已知函数计算获得杨氏模量Y；尽可能的消毒测量过程中的系统误差和人为误差，提高实际测量的精度。