一种基于RISC-V芯片的仿真调试方法及装置

摘要

本发明公开了一种基于RISC‑V芯片的仿真调试方法及装置，仿真调试方法包括：初始化待调试芯片的系统以及待调试芯片中的JTAG模块；在完成初始化后，根据调试信号对系统内存进行读写操作，并通过读取读写操作的完成状态判断待调试芯片的JTAG模块的读写操作是否正常。本发明提供一种基于RISC‑V芯片的仿真调试方法及装置，能够有效提高调试的效率，实现准确找到JTAG模块中逻辑处理不正确的设计问题，从而能够在后期应用上顺利进行IP功能验证，有利于加快项目的进度。