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一种基于分数阶模型的磁共振指纹成像方法、装置及介质

摘要

本发明涉及磁共振参数图像重建,提出了一种基于分数阶布洛赫模型的磁共振指纹定量参数成像方法,可以提高定量参数成像准确度,并且减少定量参数成像的扫描时间。它的技术方案主要分为:在脉冲序列的每一次激发中采用不同的重复时间、回波时间和翻转角采集数据并重建得到图像;基于分数阶布洛赫模型生成字典;利用模式识别获得多参数图像。实施本发明的有益效果主要有:提高了磁共振指纹定量参数成像的采样速度和成像精确度;在提高定量参数成像准确度的同时,不增加额外的数据和扫描时间。

著录项

  • 公开/公告号CN110133554B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳先进技术研究院;

    申请/专利号CN201810127489.7

  • 申请日2018-02-08

  • 分类号G01R33/54(20060101);A61B5/055(20060101);G06F17/14(20060101);G06F17/16(20060101);

  • 代理机构11332 北京品源专利代理有限公司;

  • 代理人潘登

  • 地址 518055 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号

  • 入库时间 2022-08-23 11:42:58

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