一种金刚石对顶砧内样品厚度测量装置及方法

摘要

本发明的一种金刚石对顶砧内样品厚度测量装置及方法,属于物理量测量的技术领域。所述的测量装置，主要结构包括：定位激光承台(8)、测角激光A承台(5)、测角激光B承台(2)、测距仪(3)、定位调平激光承台(30)以及定位激光承台滑轨(9)、测距滑轨(4)等；由折射定律关系sinθ₁/sinθ₂＝sinθ₃/sinθ₄，经过数学换算推导出样品承压垫片(19)在加压后的厚度h₄＝h₃‑h₁‑h₂+Δh₁+Δh₂。本发明测量设备简单且易于操作，并且测量时综合考虑了各种因素的影响，从而使测量结果更加准确保证物质电学性质和稳态法热学性质测试结果的准确性。