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一种多晶硅栅极的制造方法及多晶硅栅极

摘要

本发明提供了一种多晶硅栅极的制造方法及多晶硅栅极,其中,多晶硅栅极的制造方法包括:在衬底上依次生成栅氧化层、多晶硅层和氮化硅层;对所述氮化硅层和所述多晶硅层进行光刻和刻蚀,且所述多晶硅层上被刻蚀的位置保留预设厚度的余量;对外露的所述多晶硅层进行氧化,得到氧化层;去除所述氮化硅层,并在露出的所述多晶硅层上生成硅化物,形成多晶硅栅极。本发明提供的方案通过在刻蚀多晶硅时保留一定的余量,然后通过氧化将其转化为二氧化硅(氧化层),能够保证多晶硅层下方任何位置处的栅氧化层都不会被损伤到,简化了制作工艺;同时保留了完整的栅氧化层,不会存在交界,提高了器件性能。

著录项

  • 公开/公告号CN107437500B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201610361902.7

  • 发明设计人 马万里;

    申请日2016-05-26

  • 分类号H01L21/28(20060101);H01L29/423(20060101);H01L29/49(20060101);

  • 代理机构11243 北京银龙知识产权代理有限公司;

  • 代理人许静;安利霞

  • 地址 100871 北京市海淀区成府路298号中关村方正大厦808室

  • 入库时间 2022-08-23 11:38:44

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