公开/公告号CN109606732B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-03-23
原文格式PDF
申请/专利权人 北京强度环境研究所;中国运载火箭技术研究院;
申请/专利号CN201811439002.5
申请日2018-11-29
分类号G01M1/12(20060101);B64F5/60(20170101);
代理机构
代理人
地址 100076 北京市丰台区南大红门路1号
入库时间 2022-08-23 11:36:28
机译: 一种超导薄膜的表面电阻的测量方法,一种超导薄膜的表面电阻的测量方法,一种超薄薄膜共振电路的Q值的测量方法,一种用于超导薄膜的超导体的表面电阻的测量方法以及一种方法
机译: 一种用于测量旋翼飞机的叶片的元件相对于旋翼装置的角位置的装置,旋翼飞机及其相关的测量方法
机译: 支撑装置及其质量特性的测量方法