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电致迁移测试装置及电致迁移测试方法

摘要

本发明涉及一种电致迁移测试装置,这种电致迁移测试装置具有一个直流电源(101)及一个交流电源(102)。此外,这种电致迁移测试装置还具有一个带有导电结构(100)的电路(104),导电结构(100)与直流电源(101)及交流电源(102)均有连接。此外,这种电致迁移测试装置还具有一个可以量测呈现导电结构内的电致迁移的电参数用的量测装置。交流电源(102)提供给导电结构(100)的交流电能够将导电装置(100)加热至预定的温度,而且这个交流电不会受到直流电的影响。

著录项

  • 公开/公告号CN100412561C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2008-08-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 因芬尼昂技术股份公司;

    申请/专利号CN03814804.8

  • 发明设计人 J·冯哈根;

    申请日2003-06-25

  • 分类号

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人张雪梅

  • 地址 德国慕尼黑

  • 入库时间 2022-08-23 09:01:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-07

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/316 授权公告日:20080820 终止日期:20180625 申请日:20030625

    专利权的终止

  • 2008-08-20

    授权

    授权

  • 2008-08-20

    授权

    授权

  • 2005-10-26

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-10-26

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-08-31

    公开

    公开

  • 2005-08-31

    公开

    公开

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