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公开/公告号CN108965749B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-02-26
原文格式PDF
申请/专利权人 思特威(上海)电子科技有限公司;
申请/专利号CN201810932209.X
发明设计人 汪小勇;谢晓;邵科;任冠京;马伟剑;莫要武;徐辰;
申请日2018-08-16
分类号H04N5/367(20110101);H04N5/217(20110101);
代理机构
代理人
地址 201203 上海市浦东新区自由贸易试验区祥科路111号3号楼6楼612室
入库时间 2022-08-23 11:33:19
机译: 像素缺陷校正装置,像素缺陷检测器和像素缺陷检测方法
机译: 像素缺陷检测和校正装置,成像设备,像素缺陷检测和校正方法以及程序
机译:用于校正SPECT成像中CZT检测器缺陷像素的摆动方法的评估
机译:4000条扫描线超高清视频显示装置像素移位方法及会聚校正
机译:基于图像的集成方法的开发,该方法使用最暗像素大气校正方法,RT方程和GIS确定并绘制城市区域内的气溶胶光学厚度(AOT):以塞浦路斯利马索尔地区为例
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机译:基于4H-SiC N型外延层和像素Cdznte单晶装置的高分辨率辐射检测器
机译:基于MEDIPIX3RX检测器的断层扫描基于像素 - 逐像素校准的堆积效果校正
机译:用于检测诸如轧制/拉制金属棒的工件上的表面缺陷的装置和方法。