首页> 中国专利> 基于激光回馈效应的细微颗粒测量方法

基于激光回馈效应的细微颗粒测量方法

摘要

本发明公开了一种基于激光回馈效应的细微颗粒测量方法,该方法利用激光器附加谐振腔内运动的细微颗粒后向散射作用产生的激光回馈效应,通过测量激光器输出光能的变化,测量颗粒的尺寸,速度,数量等参数。测量装置采用氦氖激光器附加凹面全反镜和会聚透镜共焦式设计的附加谐振腔,在共焦测量敏感区对于不同尺寸和不同运动速度的单颗粒测量。该测量方法可以测量单颗粒参数,简单易行,准确可靠,在单颗粒和小颗粒测量等方面具有广泛应用前景。

著录项

  • 公开/公告号CN100430689C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2008-11-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海理工大学;

    申请/专利号CN200610118877.6

  • 发明设计人 孙国强;郑继红;郑刚;

    申请日2006-11-29

  • 分类号G01B11/00(20060101);G01B11/02(20060101);G01B7/00(20060101);G01B7/02(20060101);G01P3/36(20060101);G01P3/50(20060101);G01P3/52(20060101);

  • 代理机构31001 上海申汇专利代理有限公司;

  • 代理人吴宝根

  • 地址 200093 上海市杨浦区军工路516号

  • 入库时间 2022-08-23 09:01:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-01-29

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/00 授权公告日:20081105 终止日期:20121129 申请日:20061129

    专利权的终止

  • 2008-11-05

    授权

    授权

  • 2007-07-11

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-05-16

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号