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一种测试方法、发射设备和测试设备及测试系统

摘要

一种测试方法,包括:发射设备通过发射天线阵列发射N个信号序列后,从测试设备获取N个信号序列中各信号序列经过信道的相位偏移,根据各信号序列经过信道的相位偏移调整初始测试信号,得到能够在所述测试设备处同相叠加的目标测试信号;目标测试信号为根据各信号序列经过各自信道的相位偏移分别对初始测试信号进行相位调整所得的多个信号序列;再通过发射天线阵列发射目标测试信号。这样使得调整相位后的测试信号在接收天线处形成同相叠加,从而获得有效的信号,进而计算出发射设备的信号指标。由于不需要反射面就能够实现近场测试,因此可以降低近场测试的成本。本申请还公开了一种发射设备和测试设备和测试系统,能够实现以上方法。

著录项

  • 公开/公告号CN108988963B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华为技术有限公司;

    申请/专利号CN201810326946.5

  • 发明设计人 郝博;李小鹏;赵旭波;

    申请日2018-04-12

  • 分类号H04B17/12(20150101);H04B17/30(20150101);H04B7/06(20060101);H04B7/0413(20170101);

  • 代理机构44285 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人王仲凯

  • 地址 518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼

  • 入库时间 2022-08-23 11:31:25

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