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用于OPC验证的验证图形的量化分析方法

摘要

本发明公开了一种用于OPC验证的验证图形的量化分析方法,包括步骤:步骤一、创建验证图形的图形索引并存入数据库;步骤二、统计错误点,截取比对图形块,计算特征值,创建各特征值对应的错误点索引;将错误点索引、对应的比对图形块和特征值存入数据库;步骤三、进行统计分析,包括:步骤31、搜索错误点索引,统计得到各特征值相应的频次列表;步骤32、将频次列表归一化,进行二维积分计算得到特征值的分布值;步骤四、生成测试图形,包括:步骤41、根据特征值的分布值,得到错误点索引矩阵;步骤42、采用蒙特卡洛抽样,得到一组错误点索引,寻找对应的对比图形块并生成所述测试图形。本发明能省时省力并更为精准的提升OPC制程。

著录项

  • 公开/公告号CN109857881B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;

    申请/专利号CN201910098268.6

  • 发明设计人 冯佳计;金晓亮;

    申请日2019-01-31

  • 分类号G06F16/532(20190101);G03F1/36(20120101);

  • 代理机构31211 上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人郭四华

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

  • 入库时间 2022-08-23 11:29:48

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