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一种分子电离碰撞截面的计算方法及装置

摘要

本发明公开了一种分子电离碰撞截面的计算方法及装置,在DM公式的基础上,确定了量子化学的计算级别,提出了针对特定体系的优化方法。其中方法包括:S1、对分子结构进行建模,并利用量子化学计算求解自洽场方程,得到分子的优化结构;S2、通过Hartree‑Fock法对分子的优化结构进行波函数分析,得到分子的Mulliken布居,确定各分子轨道的能量;S3、获取各价电子组成的分子轨道的权重值;S4、通过预置第一公式及预置第二公式计算得到分子的电离碰撞截面。

著录项

  • 公开/公告号CN108595820B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201810355044.4

  • 申请日2018-04-19

  • 分类号G06F30/20(20200101);

  • 代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人张春水;唐京桥

  • 地址 510080 广东省广州市越秀区东风东路水均岗8号

  • 入库时间 2022-08-23 11:29:43

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