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一种预测微放电阈值的共形边界电磁场插值方法

摘要

本发明公开了一种预测微放电阈值的共形边界电磁场插值方法。采用的技术方案为:首先对微波部件几何结构进行离散剖分以构成相应的Yee网格,然后从3D建模软件/电磁模拟软件中导出三角面片边界信息,从电磁模拟软件中输出频域电磁场,根据电场分量存储位置分别构建3套独立的电场六面体网格,根据磁场分量存储位置分别构建3套独立的磁场六面体网格,根据三角面片边界信息对Yee网格进行标识,结合共形网格标识将导出的频域电磁场通过线性外推算法分别计算介质/金属内部区域以及共形边界网格中场网格节点上的电磁场值,并采用电磁场线性内插算法计算粒子所在位置处电磁场,进而获得粒子运动轨迹的精确计算,实现复杂微波部件微放电阈值快速准确预测。

著录项

  • 公开/公告号CN109948179B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安交通大学;

    申请/专利号CN201910074840.5

  • 申请日2019-01-25

  • 分类号G06F30/17(20200101);G06F30/20(20200101);G06F113/16(20200101);

  • 代理机构61200 西安通大专利代理有限责任公司;

  • 代理人徐文权

  • 地址 710049 陕西省西安市咸宁西路28号

  • 入库时间 2022-08-23 11:29:32

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