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公开/公告号CN109742006B
专利类型发明专利
公开/公告日2020-12-22
原文格式PDF
申请/专利权人 复旦大学;
申请/专利号CN201811649281.8
发明设计人 车仁超;曾庆文;赵雪冰;张捷;
申请日2018-12-30
分类号H01J37/20(20060101);H01J37/26(20060101);
代理机构31200 上海正旦专利代理有限公司;
代理人陆飞;陆尤
地址 200433 上海市杨浦区邯郸路220号
入库时间 2022-08-23 11:26:10
机译: 带有两个轴的透射电子显微镜的原位应力综合测试样品杆
机译: 用于制备透射电子显微镜样品以进行原位应变观察的辊模
机译: 双倾斜透射电子显微镜样品架,用于原位测量微观结构
机译:电抛光样品的原位液体和气态细胞分析透射电子显微镜的样品制备方法
机译:用原位透射电子显微镜揭示锂离子电池中V2O5纳米杆的化学和结构演化
机译:适用于研究多晶硅中晶界处的原位硅铝合金的截面透射电子显微镜薄层的制备技术
机译:GaAs固相外延生长的原位透射电子显微镜:样品制备和伪影表征
机译:透射电子显微镜样品的原位紫外可见照明系统
机译:通过同时原位低温离子注入和环境透射电子显微镜研究氦气气泡的形核和生长
机译:用于电解抛光样品的原位液体和气体细胞分析透射电子显微镜的样品制备方法
机译:低温下同时透射电子显微镜和电阻率测量银原位级缺陷的原位研究