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一种基于自对准工艺的石墨烯场效应晶体管制造方法

摘要

本发明提供一种基于自对准工艺的石墨烯场效应晶体管制造方法,其中包括:提供基板,在基板上沉积石墨烯层,并在石墨烯层上沉积自对准层;在自准层上旋涂第一光刻胶,经过图形化并刻蚀去除部分自对准层和石墨烯层后移除第一光刻胶;在自对准层上旋涂第二光刻胶,经图形化后在自对准层的中心位置刻蚀开槽,保留第二正光刻胶;在槽中沉积栅介质层和栅电极,旋涂第三光刻胶层并进行图形化,保留槽上方的第三光刻胶,刻蚀部分栅介质层和栅电极,形成栅结构,去除第三光刻胶;产生源电极和漏电极。本发明能够在限定栅介质层的区域时使用正光刻胶,避免栅电极与石墨烯层直接接触,使得石墨烯场效应晶体管的性能更加稳定。

著录项

  • 公开/公告号CN107256888B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院微电子研究所;

    申请/专利号CN201710317603.8

  • 申请日2017-05-08

  • 分类号H01L29/16(20060101);H01L29/786(20060101);H01L21/336(20060101);

  • 代理机构11667 北京兰亭信通知识产权代理有限公司;

  • 代理人赵永刚

  • 地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号

  • 入库时间 2022-08-23 11:25:54

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