测试程序除错装置与方法、半导体测试装置及测试方法

摘要

本发明提供一种测试程序除错装置、半导体测试装置、测试程序除错方法及测试方法。本发明的测试程序除错装置包括：被测试元件模拟设备及半导体测试装置模拟设备。半导体测试装置模拟设备具有验证范围获取部、指令简单化部与指令执行部。验证范围获取部是用于获取测试程序中应验证的指令的范围，亦即验证范围。指令简单化部是将设定指令以外的非设定指令加以简化，其中设定指令是用来对测试程序中的验证范围以外的范围(即非验证范围)中所包含的非验证范围的指令，进行被测试元件模拟设备的设定。指令执行部是用于执行验证范围中所包含的验证范围指令、设定指令以及被指令简单化部所简化的非设定指令。