公开/公告号CN109974768B
专利类型发明专利
公开/公告日2020-12-08
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院高能物理研究所;
申请/专利号CN201910278447.8
申请日2019-04-03
分类号G01D21/00(20060101);B64G99/00(20090101);
代理机构11004 北京中建联合知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人刘湘舟;宋元松
地址 100049 北京市石景山区玉泉路19号乙院
入库时间 2022-08-23 11:24:51
机译: 通过将生产完成后的光发射二极管转移到光学性能测试部分或电气性能测试部分而不通过从生产完成的光发射出来的光电二极管的性能测试方法,对发光二极管进行性能测试一个托盘
机译: 性能测试方法,执行该测试的性能测试设备以及存储该测试方法的存储介质
机译: 进行性能测试的方法,性能测试装置以及存储介质的性能测试方法