机译:通过将生产完成后的光发射二极管转移到光学性能测试部分或电气性能测试部分而不通过从生产完成的光发射出来的光电二极管的性能测试方法,对发光二极管进行性能测试一个托盘
公开/公告号KR20130096995A
专利类型
公开/公告日2013-09-02
原文格式PDF
申请/专利权人 KANGWU TECH CO. LTD.;
申请/专利号KR20120018663
申请日2012-02-23
分类号G01R31/26;
国家 KR
入库时间 2022-08-21 16:26:24