公开/公告号CN100412873C
专利类型发明授权
公开/公告日2008-08-20
原文格式PDF
申请/专利权人 弗赖斯金属有限公司d/b/a阿尔发金属有限公司;
申请/专利号CN03820920.9
申请日2003-08-08
分类号G06F17/50(20060101);
代理机构72002 永新专利商标代理有限公司;
代理人过晓东
地址 美国新泽西州
入库时间 2022-08-23 09:01:00
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2011-10-12
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G06F 17/50 授权公告日:20080820 终止日期:20100808 申请日:20030808
专利权的终止
2008-08-20
授权
授权
2005-11-30
实质审查的生效
实质审查的生效
2005-10-05
公开
公开
机译: 半导体检查系统,半导体缺陷分析系统,半导体设计数据修改系统,半导体检查方法,半导体缺陷分析方法,半导体设计数据修改方法以及计算机可读记录
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