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一种用于NAND Flash不良区块的查找方法、固态硬盘

摘要

本发明涉及一种用于NAND Flash不良区块的查找方法、固态硬盘。包括:将不良区块查找表建立在随机存取内存内;判断控制器待写入或读取的区块是否为不良区块,若是,则进行不良区块地址查找;通过哈希查找法进行不良区块地址查找,若查找到,则结束;若未查找到,则通过二分法进行不良区块地址查找,直至查找到不良区块的直接对应地址为止。本发明的查找表是用随机存取内存实现,同时使用硬件进行搜寻,也可以将查找表存放在不同的内存,使用韧体或硬件的方式来搜寻,可大幅缩短不良区块查找表的搜寻时间,减少不必要的地址搜寻时间,增加控制器的数据写入或读取速度。

著录项

  • 公开/公告号CN109243517B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市得一微电子有限责任公司;

    申请/专利号CN201710557810.0

  • 发明设计人 廖启宏;张佑全;王荣諆;

    申请日2017-07-10

  • 分类号G11C29/04(20060101);

  • 代理机构44314 深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙);

  • 代理人张秋红;郭方伟

  • 地址 518000 广东省深圳市南山区粤海街道科技园南十二路18号长虹科技大厦6楼09-2、10-11单元

  • 入库时间 2022-08-23 11:21:11

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