首页> 中国专利> 一种测定氧化铝样品中杂质含量的方法及样品预处理方法

一种测定氧化铝样品中杂质含量的方法及样品预处理方法

摘要

本公开涉及一种测定氧化铝样品中杂质含量的方法及样品预处理方法,该样品预处理方法包括:使待测氧化铝样品与高氯酸和浓磷酸混合后加热溶解,得到待测溶液,其中,相对于1克的所述待测氧化铝样品,所述高氯酸的用量为12‑16毫升,所述浓磷酸的用量为70‑76毫升;该方法样品溶解完全,操作简便,可以避免在高压密闭处理条件中的过压和强酸泄漏的安全隐患。本公开还提供测定氧化铝样品中杂质含量的方法,该方法将Si元素和其他杂质元素分别单独采用等离子发射光谱检测仪测定,避免了Si元素和其余杂质元素的谱线干扰,提高了测试精度。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号