一种基于PAM4的一体化光模块误码测试仪

摘要

本发明公开了一种基于PAM4的一体化光模块误码测试仪，包括主控单元、接口单元和上位机。通过将通信接口、电源电路、I/O接口等外围电路集成到主控单元中，SoC根据不同光模块类型进行电源配置和I/O信号定义。接口单元通过可插拔连接器与主控单元连接，进行不同光模块测试只需更换接口单元，无需定制相应的外围电路。光模块接口电路和误码测试模块均整合于接口单元中，无需线缆进行连接，降低了测试过程中的损耗，能够测试速率更高的NRZ/PAM4信号和长度更长的PRBS码型。