首页> 中国专利> 一种适用于非对称视场的拼接式相机的实验室检校方法

一种适用于非对称视场的拼接式相机的实验室检校方法

摘要

一种适用于非对称视场的拼接式相机的实验室检校方法,首先使用二维转台测量像高值和角度值,并对中心成像相机观测值赋权,采用精密测角法解算中心成像相机,进而计算中心不成像相机的观测值,然后对中心不成像相机观测值赋权,采用精密测角法解算中心不成像相机,最后通过得到的中心成像相机、中心不成像相机的内方位元素计算得到拼接式相机的整体内方位元素,完成适用于非对称视场的拼接式相机的实验室检校。

著录项

  • 公开/公告号CN109188852B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京空间机电研究所;

    申请/专利号CN201811209270.8

  • 申请日2018-10-17

  • 分类号G03B43/00(20060101);

  • 代理机构11009 中国航天科技专利中心;

  • 代理人武莹

  • 地址 100076 北京市丰台区南大红门路1号9201信箱5分箱

  • 入库时间 2022-08-23 11:20:51

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号