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一种太赫兹辐射体法向发射率的准光测量系统和方法

摘要

本申请公开了一种太赫兹辐射体法向发射率的准光测量系统和方法。所述系统,包括:第一收发单元、第二收发单元、第一凹面反射镜、第二凹面反射镜、第一极化栅网、第二极化栅网、被测物:所述第一收发单元、第二收发单元,用于电磁波的发射,和第一及第二反射路径上反射电磁波的接收;所述第一凹面反射镜、第二凹面反射镜,用于波束汇聚;所述第一极化栅网、第二极化栅网,用于极化选择和波束分离;所述被测物包括金属板和辐射体。本申请还提供了一种使用以上系统的方法。与现有太赫兹辐射体法向发射率测量装置和方法比较,本申请具有提升动态范围、避免系统性误差影响的优点。

著录项

  • 公开/公告号CN109613343B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京无线电计量测试研究所;

    申请/专利号CN201811478079.3

  • 发明设计人 程春悦;陈玲;邢晓芸;

    申请日2018-12-05

  • 分类号G01R29/08(20060101);

  • 代理机构11315 北京国昊天诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人马骥;南霆

  • 地址 100854 北京市海淀区永定路50号142信箱408分箱

  • 入库时间 2022-08-23 11:18:51

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