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一种时域反射计的特性阻抗时域分段校准方法

摘要

本发明公开了一种时域反射计的特性阻抗时域分段校准方法,先将被测特性阻抗值按照反射系数ρ来分段,以反射系数确定几个分界点,以分界点反射系数对应的阻抗值划分被测阻抗范围,然后选择范围内一个典型阻抗值作为校准的参考阻抗,TDR仪器对每个典型参考阻抗值逐一执行特性阻抗校准,存储为不同组别校准参数,不同的阻抗值范围,TDR校准和测量区域的选定范围不同,测量时以50Ω的校准参数作为默认基准进行计算,完成测量,如果测得反射系数不在‑0.5<ρ≤0.15范围内,即阻抗值不在15Ω

著录项

  • 公开/公告号CN111352059B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN202010249939.7

  • 申请日2020-04-01

  • 分类号G01R35/00(20060101);

  • 代理机构51260 成都巾帼知识产权代理有限公司;

  • 代理人邢伟

  • 地址 610000 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 11:15:35

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