一种时域反射计的特性阻抗时域双参考线校准方法

摘要

本发明公开了一种时域反射计的特性阻抗时域双参考线校准方法，包括以下步骤：S1.初始化时域反射计，使其能够测量并显示出校准件的全部长度；S2.选择校准模式：测试开始前，先选择采用开路校准模式或是端接校准模式进行校准；S3.选择校准通道：首先选择其中一个通道进行校准，并保存校准过程中得到的校准参数，完成当前通道的校准：S4.选择另一个通道，完成对另一个通道的校准；S5.开始测试：选定使用开路校准模式或是端接校准模式下的参数，在相应的模式下对被测件进行测试，得到测量波形，计算出被测件特性阻抗。本发明解决了多重反射导致的数据异常问题，并通过等效计算得到更准确的入射电压幅度值，能够大幅降低测量误差，提高时域反射计的测量精度。