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一种太赫兹渡越时间器件半正弦电流脉冲可靠性试验装置

摘要

本发明提供一种太赫兹渡越时间器件半正弦电流脉冲可靠性试验装置,包括主控制器、正弦电压信号产生电路、半正弦加热电流脉冲形成电路、储放能电路。正弦电压信号产生电路把脉冲信号换成全波正弦电压信号;半正弦加热电流脉冲形成电路把全波正弦电压信号换成半正弦加热电流脉冲并加载于太赫兹渡越时间器件的阳极,储放能电路产生半正弦放电电流脉冲并加载于太赫兹渡越时间器件的阳极,开展可靠性试验;主控制器发出信号和控制指令,根据半正弦加热电流脉冲和半正弦放电电流脉冲通过太赫兹渡越时间器件后的参数判定可靠性状态。实施本发明,可对太赫兹渡越时间器件开展便捷、精准直观的半正弦电流脉冲可靠性试验,显示所用试验参数和可靠性指标。

著录项

  • 公开/公告号CN111025112B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 温州大学;

    申请/专利号CN201911245889.9

  • 发明设计人 韦文生;

    申请日2019-12-07

  • 分类号G01R31/26(20140101);

  • 代理机构33258 温州名创知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈加利

  • 地址 325000 浙江省温州市瓯海区东方南路38号温州市国家大学科技园孵化器

  • 入库时间 2022-08-23 11:15:33

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