可避免误分料的电子元件检测设备及其检测方法

摘要

本发明有关于一种可避免误分料的电子元件检测设备及其检测方法，主要包括利用主控制器控制多个排料感测器感测位于分料区内的多个电子元件；而且，当检测结果为良品时，移料装置移载多个电子元件到至少一良品匣前先经过至少一不良品匣。换言之，藉由将不良品匣设置于良品匣的上游位置，一旦检测结果为不良品时，该不良品将随即被移入不良品匣，并无任何机会移经良品匣，故自然不会有不良品误排入良品匣的情形发生。此外，分料区内所设置的多个排料感测器可用以感测每一电子元件的实际位置，可更进一步确保不会有误分料的情形发生。