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用于改善反应溅射膜层均匀性的物理气相沉积设备

摘要

本发明提供一种用于改善反应溅射膜层均匀性的物理气相沉积设备,包括腔体、靶材承载装置、基座、环状管路、多个喷嘴、挡板及环形压环;腔体的下部设置有排气口;基座位于腔体内;挡板位于腔体内,且位于靶材及基座的外围;环状管路位于靶材与基座之间,环状管路与反应气体源相连通;多个喷嘴一端连接于环状管路上,另一端朝向基座方向,以将反应气体均匀喷射到晶圆表面;环形压环一端与挡板相接触,另一端延伸至晶圆的上方。本发明可以进一步包括导流盘,位于环形压环上,内径大于等于晶圆的直径,其下表面间隔设置有沿所述导流盘的径向延伸的多个导流槽,用于将残余气体通过所述导流槽排出。本发明有助于提高薄膜的均匀性和降低生产成本。

著录项

  • 公开/公告号CN111254383B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010218488.0

  • 发明设计人 潘钱森;周云;宋维聪;

    申请日2020-03-25

  • 分类号C23C14/00(20060101);C23C14/34(20060101);C23C14/35(20060101);

  • 代理机构31219 上海光华专利事务所(普通合伙);

  • 代理人余明伟

  • 地址 201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区郭守敬路498号8幢19501-19503室

  • 入库时间 2022-08-23 11:15:07

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