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基于锯齿波和遗传算法的模拟电路测点优选方法

摘要

本发明公开了一种基于锯齿波和遗传算法的模拟电路测点优选方法,对模拟电路的每个元件模糊组代表元件进行多次故障模拟,在模拟时以锯齿波作为模拟电路输入,得到不同频率下各个测点对应的故障电压,从而得到模拟电路数据;初始化遗传算法中的个体,对每个个体进行处理,然后根据个体对应的测点选择方案从模拟电路数据中筛选出对应测点的特征向量,对预设的分类器进行交叉验证,将得到的分类准确率作为个体的适应度值,然后生成下一代种群继续进行处理,直到达到迭代结束条件,从当前种群中适应度最大的个体作为最优个体,其对应的测点选择方案即为测点优选方案。本发明可在基于多频进行模拟电路故障诊断时有效实现测点优选,提高故障诊断的精度。

著录项

  • 公开/公告号CN109307835B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201810201795.0

  • 发明设计人 赖丹;杨成林;

    申请日2018-03-12

  • 分类号G01R31/316(20060101);

  • 代理机构51220 成都行之专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人温利平;陈靓靓

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 11:14:11

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