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一种封装胶膨胀系数的校验方法及校验装置

摘要

本发明涉及封装胶膨胀系数的校验方法及校验装置,其中校验方法通过对容器内依次层叠设置的多层待测封装胶层在受热情况下对容器内的压力传感器产生的压力差值和多层待测封装胶层在在受热情况下的偏移值的检测,通过检测而得的数值来判断不同的封装胶之间膨胀系数相对的大小,可以快速的判断选择出膨胀系数最小的封装胶来进行使用。

著录项

  • 公开/公告号CN108645370B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 厦门多彩光电子科技有限公司;

    申请/专利号CN201810390676.4

  • 发明设计人 高春瑞;郑文财;王碧;

    申请日2018-04-27

  • 分类号G01B21/32(20060101);G01N25/16(20060101);

  • 代理机构35218 厦门市精诚新创知识产权代理有限公司;

  • 代理人方惠春

  • 地址 361000 福建省厦门市火炬高新区(翔安)产业区翔安西路8021号

  • 入库时间 2022-08-23 11:13:29

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