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基于背景纹影技术的透明物体三维表面重建方法和装置

摘要

本发明公开了一种基于背景纹影技术的透明物体三维表面重建方法和装置,通过获取光源透射于背景图像后所射出的存在折射率场时的光线和不存在折射率场时的光线所形成的空间偏折角的角度值大小;根据获取的空间偏折角的角度值大小,得出光线从背景图像照射至折射点的方向向量;根据得出的光线从背景图像照射至折射点的方向向量,确定折射点的空间坐标和折射点处切平面的法向量;基于确定的折射点的空间坐标和折射点处切平面的法向量,对折射率场进行三维表面重建。本发明提供的基于背景纹影技术的透明物体三维表面重建方法和装置,配置简单、测量的空间分辨率高、成本低。

著录项

  • 公开/公告号CN107240148B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国人民解放军国防科学技术大学;

    申请/专利号CN201710232418.9

  • 发明设计人 丁浩林;何霖;易仕和;

    申请日2017-04-11

  • 分类号G06T17/00(20060101);

  • 代理机构43211 长沙智嵘专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人胡亮

  • 地址 410073 湖南省长沙市开福区德雅路109号

  • 入库时间 2022-08-23 11:13:21

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