首页> 中国专利> 一种用于X射线光电子能谱原位测试的样品托及其应用

一种用于X射线光电子能谱原位测试的样品托及其应用

摘要

本发明提供一种用于X射线光电子能谱原位测试的样品托及其应用,该样品托包括:底座、电极基板、电极探针、样品放置台以及绝缘轴承;其中,底座具有圆环状结构;电极基板固定于底座的上方;样品放置台设置于底座的内侧,包括一样品加热衬片;电极探针的一端固定于电极基板上,另一端伸出到样品放置台上;绝缘轴承设置于底座与样品放置台之间;其中,电极探针的一端可连接导线,与电极探针和样品的物理接触构成回路,同时进行电压和电流信号的输入和输出,所加电压和电流强度通过外接仪器控制,实现X射线光电子能谱原位测试。根据本发明提供的样品托可用于特定样品在高温、一定气氛和压强和外加电压或电流条件下的X射线光电子能谱的原位测试。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号