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用于可磁致动器件的探针卡和包括探针卡的测试系统

摘要

一种探针卡装配在用于测试微机电器件的系统中,该微机电器件具有对磁场敏感的元件。探针卡由PCB形成,PCB具有贯通开口以及探针尖端,用于电接触微机电器件。壳体结构被容纳在贯通开口内。壳体结构包括平面外围区域,该平面外围区域包围至少部分地突出且延伸到贯通开口中的座。磁性元件被布置在座中,其中磁性元件被布置以生成测试磁场,该测试磁场用于微机电器件的测试操作。

著录项

  • 公开/公告号CN108459180B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 意法半导体股份有限公司;

    申请/专利号CN201710881279.2

  • 发明设计人 M·罗西;S·M·雷纳;G·卡尔卡特拉;

    申请日2017-09-26

  • 分类号G01R1/073(20060101);

  • 代理机构11256 北京市金杜律师事务所;

  • 代理人王茂华

  • 地址 意大利阿格拉布里安扎

  • 入库时间 2022-08-23 11:12:34

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