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一种维特比译码路径度量防溢出方法及装置

摘要

本申请提供了一种维特比译码路径度量防溢出方法,该方法包括:利用自由距离和卷积码参数计算一个路径度量位宽扩展参数;根据所述路径度量位宽扩展参数和维特比译码输入信息位宽得到路径度量总位宽;根据所述路径度量总位宽分别选取每个状态路径度量值的最高位比特,以根据选取的所述最高位比特进行或运算得到溢出标志位;当所述溢出标志位满足第一预设条件时,进行防溢出处理。该方法通过或门、选择开关等简单的硬件即可实现维特比译码路径度量累加结果以位宽W表示不溢出,通过较低的复杂度与硬件资源开销即可解决维特比译码路径度量存在的溢出问题。

著录项

  • 公开/公告号CN108540264B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳昂瑞微电子技术有限公司;

    申请/专利号CN201810228128.1

  • 申请日2018-03-20

  • 分类号H04L1/00(20060101);H03M13/41(20060101);H03M13/00(20060101);

  • 代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人王宝筠

  • 地址 518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南四道18号创维半导体设计大厦西座407-408

  • 入库时间 2022-08-23 11:11:54

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