有针对性应用的基于事件的半导体存储器测试系统

摘要

一种用于测试半导体器件的半导体测试系统，具有多个不同的测试器模块，和用于产生针对被测试的器件中的存储器的算法码型的算法码型发生器(ALPG)，从而实现低成本和专用的存储器测试系统。该半导体测试系统包括两个或多个性能彼此不同的测试器模块、产生针对特定存储器的算法码型的ALPG模块；容纳测试器模块和ALPG模块的组合的测试系统主机、电连接测试器模块和被测试器件的测试设备、在测试设备中提供的用于安装被测试器件的执行板，以及通过测试器总线与测试器模块通信从而控制测试系统的整体操作的主计算机。