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基于记忆效应的光斑位置精准定位的方法、装置及系统

摘要

本发明公开了一种基于记忆效应的光斑位置精准定位的方法、装置及系统,其中,方法包括以下步骤:首先根据已知位置的入射光照射至漫射板,通过改变入射光的位置,图像传感器获得一系列散斑图像,对散斑图像进行处理获得一系列相关系数,并形成相关系数随位置变化的标定曲线;当未知位置的入射光照射至漫射板,图像传感器拍摄散射光斑,生成散斑图像;对散斑图像进行相关处理,获得其相关系数;根据获得的相关系数和标定曲线,获得入射光斑的位置信息。该方法可以提升传统光斑位置定位的准确性,实现目标光斑位置的高精度定位,并具有工艺简单、性能可靠等优点,且适用范围广泛,可以用于激光测距、光栅周期测量、激光雷达等光电检测与测量系统等。

著录项

  • 公开/公告号CN110307785B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201910625795.8

  • 发明设计人 曹良才;张华;李瑶瑶;刘松汶;

    申请日2019-07-11

  • 分类号

  • 代理机构北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张润

  • 地址 100084 北京市海淀区清华园

  • 入库时间 2022-08-23 11:10:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-21

    授权

    授权

  • 2019-11-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/00 申请日:20190711

    实质审查的生效

  • 2019-10-08

    公开

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