一种基于光电二极管阵列的辐照强度分布测量方法

摘要

一种基于光电二极管阵列的辐照强度分布测量方法，利用光电二极管光生电流与辐照强度成正比的关系，将辐照强度测量转换为光电二极管光生电流的测量，在需要进行辐照强度测量的平面上布置光电二极管阵列，从而以光电二极管阵列的光生电流分布反映辐照强度的分布。本发明可以测量辐照强度的分布，而且光电二极管的有效受光面积较小，相邻辐照强度测量点之间步长较短，保证了测量的精度。而且采用两排光电二极管插空排列的方式弥补了因边框和正负接线端占用的面积，做到了在一个方向上辐照强度分布完全覆盖。另外，可以定量评估辐照强度分布的非均匀度，为进一步探索辐照强度非均匀性对聚光光伏光热系统总体性能参数的影响作了铺垫。