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在晶片级减少的芯片测试方案

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摘要

本发明涉及半导体器件的生产测试，尤其涉及在晶片级的这种器件的生产测试。根据本发明的方法包括步骤：为晶片上有限数量的半导体器件产生(20)质量测试数据；根据所产生的质量测试数据决定(24)是否还要测试晶片上的其它半导体器件；以及根据该决定步骤的结果，测试(28)或不测试(26)晶片上的其它半导体器件。还描述了相应的晶片探测器。

著录项

公开/公告号CN100390554C

专利类型发明授权
公开/公告日2008-05-28

原文格式PDF
申请/专利权人 NXP股份有限公司;
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申请/专利号CN03821800.3
发明设计人 C·O·西科;P·C·N·谢尔瓦特;
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申请日2003-08-04
分类号G01R31/28(20060101);
代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;
代理人王波波
地址荷兰艾恩德霍芬
入库时间 2022-08-23 09:00:42

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2016-09-28

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 授权公告日:20080528 终止日期:20150804 申请日:20030804

专利权的终止
2016-09-28

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 授权公告日:20080528 终止日期:20150804 申请日:20030804

专利权的终止
2008-05-28

授权

授权
2008-05-28

授权

授权
2007-12-12

专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移变更前: 变更后: 登记生效日:20071109 申请日:20030804

专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移
2007-12-12

专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移登记生效日:20071109 变更前: 变更后: 申请日:20030804

专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移
2007-12-12

专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移变更前: 变更后: 登记生效日:20071109 申请日:20030804

专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移
2005-12-07

实质审查的生效

实质审查的生效
2005-12-07

实质审查的生效

实质审查的生效
2005-10-12

公开

公开
2005-10-12

公开

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