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微纳结构3D轮廓测量中基于坐标变换的倾斜误差补偿方法

摘要

一种微纳结构3D轮廓测量中基于坐标变换的倾斜误差补偿方法,是由如下过程完成的:1.采集被测物表面干涉图,得到被测物表面初始轮廓图;2.确定被测物的基准平面;3.进行坐标系旋转,使新坐标系的XOY平面与基准平面平行,重构被测物表面3D轮廓。确定被测物的基准平面,是使用最小二乘法确定调平表面轮廓的基准平面,包括有最小二乘中线法和面内最小二乘法。本发明计算量小,使用简单,处理效率高;最大限度地避免了轮廓的变形;不仅可用于相移显微干涉系统的测量应用中,也可以用于其他测量MEMS/NEMS表面3D轮廓的技术的图像处理中;可以根据不同应用的需求,选择不同的面作为基准,得到不同视角的表面三维轮廓信息,运用灵活。

著录项

  • 公开/公告号CN100402978C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2008-07-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN200610015496.5

  • 发明设计人 栗大超;黄玉波;傅星;胡小唐;

    申请日2006-08-30

  • 分类号G01B21/20(20060101);G01B11/24(20060101);G01N13/10(20060101);

  • 代理机构12201 天津市北洋有限责任专利代理事务所;

  • 代理人江镇华

  • 地址 300072 天津市南开区卫津路92号

  • 入库时间 2022-08-23 09:00:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2008-07-16

    授权

    授权

  • 2007-04-11

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-02-14

    公开

    公开

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