首页> 中国专利> 基于SiO2微球运动信息分析其表面电荷密度的方法

基于SiO2微球运动信息分析其表面电荷密度的方法

摘要

本发明涉及一种基于SiO2微球运动信息分析其表面电荷密度的方法,包括以下步骤:(1)将SiO2微球溶液放置于样品测试装置内,用光镊系统捕获单个SiO2微球的位置变化;(2)通过四象限检测器将SiO2微球的位置变化转化为电信号,通过信号采集卡采集电信号;(3)再通过对SiO2微球运动信息的电信号进行数据处理,得到SiO2微球的阻力系数,进而分析其表面电荷密度。与现有技术相比,本发明样品制备简单,通过采用光镊系统采集微球运动信息,实现单个SiO2微球表面电荷密度的实时分析,避免机械器臂干扰,可操控特定表面电荷密度的SiO2微球,有望应用于细胞膜上带不同电荷细胞的分类和筛选。

著录项

  • 公开/公告号CN108254632B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-07-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 同济大学;

    申请/专利号CN201711406291.4

  • 发明设计人 张鲁凝;曾永霞;

    申请日2017-12-22

  • 分类号G01R29/24(20060101);

  • 代理机构31225 上海科盛知识产权代理有限公司;

  • 代理人杨元焱

  • 地址 200092 上海市杨浦区四平路1239号

  • 入库时间 2022-08-23 11:06:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-28

    授权

    授权

  • 2018-07-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R29/24 申请日:20171222

    实质审查的生效

  • 2018-07-06

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号