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公开/公告号CN110082368B
专利类型发明专利
公开/公告日2020-06-26
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学技术大学;
申请/专利号CN201910354382.0
发明设计人 王海波;叶邦角;
申请日2019-04-29
分类号G01N23/00(20060101);G01T1/36(20060101);
代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;
代理人杨学明;顾炜
地址 230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号
入库时间 2022-08-23 11:03:20
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-06-26
授权
2019-08-27
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/00 申请日:20190429
实质审查的生效
2019-08-02
公开
机译: 用于校准基于硅光电倍增器的正电子发射断层扫描系统的系统和方法
机译: 硅光电倍增管(sipm),从而提供了一种光发射光谱仪
机译: 一种在质谱仪的离子检测器中操作光电倍增器以延长寿命的方法
机译:基于LYSO和LFS-3闪烁体的新型基于SiPM的正电子an灭寿命光谱仪
机译:基于时间的硅光电倍增管(SiPM)的飞行时间正电子发射断层扫描(TOF-PET)读数
机译:基于硅光电倍增器的紧凑,高信噪比线检测仪阵列康普顿散点散射成像系统
机译:用于飞行时间正电子发射断层扫描(TOF-PET)的硅光电倍增管(SIPM)的基于时间读数
机译:基于硅光电倍增器的基于正电子发射断层扫描成像的多次阈值数据采集系统
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机译:基于时间的硅光电倍增管(SIPM)的读出时段正电子发射断层扫描(TOF-PET)
机译:正电子湮没寿命谱仪的研制与优化,用于测定硝酸盐水溶液中固体和硼烷笼分子的纳米级缺陷;硕士论文